LANGER產(chǎn)品介紹

1、LANGER掃描儀探頭100 KHz至50 MHz LFS-B 3

①LFS-B 3 H場(chǎng)探頭的測(cè)量線圈與探頭軸正交布置。當(dāng)探頭垂直放置時(shí)，測(cè)量線圈直接位于印刷電路板的表面上。這樣就可以在電路板表面上難以觸及的位置進(jìn)行測(cè)量，例如在開(kāi)關(guān)調(diào)節(jié)器的大型組件之間進(jìn)行測(cè)量。

②LFS-B 3是無(wú)源近場(chǎng)探頭。與磁場(chǎng)探頭LFS-R 3的區(qū)別在于線圈旋轉(zhuǎn)了90°。LFS-B 3檢測(cè)從測(cè)量對(duì)象正交出現(xiàn)的磁場(chǎng)線。未檢測(cè)到從側(cè)面進(jìn)入探頭的磁場(chǎng)線。近場(chǎng)探頭小巧方便。它具有護(hù)套電流阻尼并且具有電屏蔽功能。近場(chǎng)探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。H場(chǎng)探頭內(nèi)部沒(méi)有50端接電阻。

2、LANGER近場(chǎng)探頭

①單個(gè)近場(chǎng)探頭不足以搜索發(fā)射。而是，硬件開(kāi)發(fā)人員的任務(wù)是選擇和使用相關(guān)的探針。

②對(duì)于模塊的EMC優(yōu)化，重要的是開(kāi)發(fā)一種用于近場(chǎng)測(cè)量的測(cè)量策略，以便使用所選的近場(chǎng)探頭在板上找到發(fā)射源。

③Langer EMV-Technik GmbH為模塊上的近場(chǎng)偵察提供各種H/B近場(chǎng)探頭和E/D近場(chǎng)探頭。每個(gè)探針家族都是根據(jù)特定任務(wù)開(kāi)發(fā)的。

④Langer EMV-Technik GmbH的近場(chǎng)探頭特別具有實(shí)用的引腳形狀。它們很小且方便。這使開(kāi)發(fā)人員可以在其電子產(chǎn)品上進(jìn)行靈活而有針對(duì)性的測(cè)量。

⑤Langer EMV-Technik GmbH的近場(chǎng)探頭通常適用于在100 kHz至20 GHz頻率范圍內(nèi)測(cè)量RF干擾所需的所有預(yù)一致性測(cè)量。

⑥所有近場(chǎng)探頭均由德國(guó)的Langer EMV-Technik GmbH開(kāi)發(fā)，制造和校準(zhǔn)。具有校正特性，可以將輸出端的探針電壓轉(zhuǎn)換為探針頭位置處的磁場(chǎng)。校正特性可作為EXCEL作為xlsx文件下載準(zhǔn)備在他們的網(wǎng)站上。您會(huì)從Langer EMV-Technik GmbH獲得特別設(shè)計(jì)的成套或單獨(dú)的近場(chǎng)探頭。

3、LANGER近場(chǎng)探頭100 kHz至50 MHz LF1套裝

①近場(chǎng)探頭套件LF1包含四個(gè)屏蔽無(wú)源近場(chǎng)探頭，用于電子組件上LW，MW和KW范圍內(nèi)HF磁場(chǎng)的發(fā)展伴隨測(cè)量。Set LF1的探頭可以逐步定位模塊上的干擾發(fā)射源。

②首先，使用LF-R 400探頭從更遠(yuǎn)的距離確定模塊的干擾發(fā)射。此外，使用更高分辨率的探頭LF-B 3，LF-U 5和LF-U 2.5，可以更精確地定位干擾源。

③這些探頭可以對(duì)單個(gè)引腳，較大的組件和結(jié)構(gòu)部件進(jìn)行測(cè)量。近場(chǎng)探頭小巧方便。它們具有護(hù)套電流阻尼并且被電屏蔽。近場(chǎng)探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。

④磁場(chǎng)探頭LF-B 3的測(cè)量線圈與探頭軸正交。當(dāng)探頭垂直放置時(shí)，測(cè)量線圈直接位于印刷電路板的表面上。結(jié)果，在電路板表面難以到達(dá)的位置進(jìn)行了測(cè)量，例如在大型建筑物之間。